Перейти к содержимому

Статья · 2020

Investigation of radiation defects in thin films (case of Tashkent)

Ранее эта работа выходила с другим DRI

При исправлении выпуска реестр nationaldri.uz присваивает работе новый DRI, а прежние остаются постоянными ссылками и ведут на эту же страницу. В списках литературы может встретиться любой из идентификаторов ниже — все они обозначают одну и ту же работу.

  • 20.1002/fizmatj/2020/i3/77384751

Паспорт

Зеркало паспорта из реестра nationaldri.uz. Редактирование возможно только на nationaldri.uz.

Авторы

  1. S. To'xtayevaпрофиль не привязан

    Qozon federal universiteti

  2. Saidov U.Sh.профиль не привязан

    Kazakh National University

  3. Shukurova N.M.профиль не привязан

    Мирзо Улуғбек номидаги Ўзбекистон Миллий университети

Аннотация

The article examines investigation of radiation defects in thin films (case of Tashkent). A comparative analysis of international experience is provided. Practical recommendations are proposed.

Ключевые слова

Библиографические данные

DRI
20.1002/fizmatj/2020/i9/12026591
Тип работы
Статья
Журнал
O'zMU fizika-matematika jurnaliISSN 2181-0117
Том и номер
№ 9
Страницы
6–10
Дата публикации
23 марта 2020
Язык
Английский
Зеркало паспорта
синхронизировано 21.09.2026, 16:48, версия 2

Использование по месяцам

Просмотры и скачивания за последние 24 месяца (все источники).

Список литературы

Источники, на которые ссылается работа, и их сопоставление с работами реестра.

Цитирующие работы

Работы реестра, ссылающиеся на эту работу, сначала новые.