Asosiy mazmunga o'tish

Maqola · 2020

Investigation of radiation defects in thin films (case of Tashkent)

Bu ish avval boshqa DRI bilan chiqqan

nationaldri.uz registrida son tuzatilganda ishga yangi DRI beriladi, eskilari esa doimiy havola bo'lib qoladi va shu sahifaga olib keladi. Adabiyotlar ro'yxatida quyidagi identifikatorlarning istalgani uchrashi mumkin — ularning hammasi shu bitta ishni bildiradi.

  • 20.1002/fizmatj/2020/i3/77384751

Pasport

nationaldri.uz registridagi pasport ko'zgusi. Tahrir faqat nationaldri.uz da amalga oshiriladi.

Mualliflar

  1. Haydarov Botir Odil o'g'liORCID 0000-0002-0014-8094 (yangi oynada ochiladi)

    Mirzo Ulug'bek nomidagi O'zbekiston Milliy universiteti

  2. S. To'xtayevaprofil bog'lanmagan

    Qozon federal universiteti

  3. Saidov U.Sh.profil bog'lanmagan

    Kazakh National University

  4. Shukurova N.M.profil bog'lanmagan

    Мирзо Улуғбек номидаги Ўзбекистон Миллий университети

Annotatsiya

The article examines investigation of radiation defects in thin films (case of Tashkent). A comparative analysis of international experience is provided. Practical recommendations are proposed.

Bibliografik ma'lumotlar

DRI
20.1002/fizmatj/2020/i9/12026591
Ish turi
Maqola
Jurnal
O'zMU fizika-matematika jurnaliISSN 2181-0117
Jild va son
9-son
Sahifalar
6–10
Nashr sanasi
23-mart, 2020
Til
Inglizcha
Pasport ko'zgusi
21.09.2026, 16:48 da sinxronlangan, versiya 2

Oylik foydalanish

Oxirgi 24 oy bo'yicha ko'rish va yuklab olishlar (barcha manbalar).

Adabiyotlar ro'yxati

Ish havola bergan manbalar va ularning registrdagi ishlar bilan moslashtirilishi.

Iqtibos beruvchi ishlar

Registrdagi shu ishga havola bergan ishlar, yangilari birinchi.