Перейти к содержимому

Статья · 2012

Исследование фотопроводимости в полупроводниковых структурах

Паспорт

Зеркало паспорта из реестра nationaldri.uz. Редактирование возможно только на nationaldri.uz.

Авторы

  1. A. AxmedovORCID 0000-0002-0014-2493 (откроется в новой вкладке)

    National University of Uzbekistan named after Mirzo Ulugbek

  2. Mirzayeva G.A.ORCID 0000-0002-0026-7931 (откроется в новой вкладке)

    Ажиниёз номидаги Нукус давлат педагогика институти

  3. Nazarova L.E.профиль не привязан

    O'zMU, Jurnalistika fakulteti

  4. Jumayeva O'g'iloyпрофиль не привязан

    Toshkent shahridagi Turin politexnika universiteti

Аннотация

В статье рассматриваются вопросы темы «Исследование фотопроводимости в полупроводниковых структурах». Проведён анализ отечественного и зарубежного опыта. Предложены практические рекомендации.

Библиографические данные

DRI
20.1027/tiqxmmiilm/2012/v4_i2/17120436
Тип работы
Статья
Журнал
TIQXMMI ilmiy-uslubiy jurnaliISSN 2181-0877
Том и номер
том 4, № 2
Страницы
1–13
Дата публикации
8 марта 2012
Язык
Русский
Зеркало паспорта
синхронизировано 21.09.2026, 16:47, версия 1

Использование по месяцам

Просмотры и скачивания за последние 24 месяца (все источники).

Список литературы

Источники, на которые ссылается работа, и их сопоставление с работами реестра.

Цитирующие работы

Работы реестра, ссылающиеся на эту работу, сначала новые.