Статья · 2025
Исследование радиационных дефектов в полупроводниковых структурах (на примере Ташкента) 82
Паспорт
Зеркало паспорта из реестра nationaldri.uz. Редактирование возможно только на nationaldri.uz.
Авторы
Sultonova Nafisaпрофиль не привязан
Mirzo Ulug'bek nomidagi O'zbekiston Milliy universiteti
Аннотация
В статье рассматриваются вопросы темы «Исследование радиационных дефектов в полупроводниковых структурах (на примере Ташкента) 82». Проведён анализ отечественного и зарубежного опыта. Предложены практические рекомендации.
Ключевые слова
Библиографические данные
- DRI
- 20.3001/oak/2025/v16_i6/21256562
- Тип работы
- Статья
- Журнал
- OAK axborotnomasiISSN 2181-1393
- Том и номер
- том 16, № 6
- Страницы
- 1–6
- Дата публикации
- 10 июня 2025
- Язык
- Русский
- Зеркало паспорта
- синхронизировано 21.09.2026, 16:51, версия 1
Использование по месяцам
Просмотры и скачивания за последние 24 месяца (все источники).
Список литературы
Источники, на которые ссылается работа, и их сопоставление с работами реестра.
Цитирующие работы
Работы реестра, ссылающиеся на эту работу, сначала новые.