Investigation of radiation defects in thin films (case of Samarkand) 3

Авторы

1. 1

   Yusupov O.O.профиль не привязан

   O'zMU

2. 2

   Shukurov BaxtiyorORCID 0000-0002-0014-5360 (откроется в новой вкладке)

   O'zMU

3. 3

   Sultonova Nafisa DavronovnaORCID 0000-0002-0014-1589 (откроется в новой вкладке)

   O'zMU, Fizika fakulteti

4. 4

   Eshonqulova Barno Shahboz qiziпрофиль не привязан

   Nizomiy nomidagi Toshkent davlat pedagogika universiteti

5. 5

   Xoliqova Nafisa Sayfulla qiziORCID 0000-0002-0014-1167 (откроется в новой вкладке)

   Мирзо Улуғбек номидаги Ўзбекистон Миллий университети

Аннотация

The article examines investigation of radiation defects in thin films (case of Samarkand) 3. A comparative analysis of international experience is provided. Practical recommendations are proposed.

Ключевые слова

• radiation defects
• tadqiqot
• tahlil

Библиографические данные

DRI

20.2001/ufj/2022/v5_i1/29153089

Тип работы

Статья

Журнал

O'zbekiston fizika jurnaliISSN 2181-0974

Том и номер

том 5, № 1

Страницы

6–14

Дата публикации

26 января 2022

Язык

Английский

Внешний DOI

10.52048/ufj.2022.5.1.2 (откроется в новой вкладке)

Полный текст

Открыть на странице издания (откроется в новой вкладке)

Зеркало паспорта

синхронизировано 21.09.2026, 16:49, версия 1