Книга · 2026
Исследование радиационных дефектов в полупроводниковых структурах (на примере Бухары) 17
Паспорт
Зеркало паспорта из реестра nationaldri.uz. Редактирование возможно только на nationaldri.uz.
Авторы
Jo'rayev Sirojiddin JavlonovichORCID 0000-0002-0015-0960 (откроется в новой вкладке)
Mirzo Ulug'bek nomidagi O'zbekiston Milliy universiteti
Morozova Natalyaпрофиль не привязан
Respublika ixtisoslashtirilgan kardiologiya markazi
Umrzoqov Bobur Akmal o'g'liORCID 0000-0002-0014-0324 (откроется в новой вкладке)
Mirzo Ulug'bek nomidagi O'zbekiston Milliy universiteti
Аннотация
В статье рассматриваются вопросы темы «Исследование радиационных дефектов в полупроводниковых структурах (на примере Бухары) 17». Проведён анализ отечественного и зарубежного опыта. Предложены практические рекомендации.
Ключевые слова
Библиографические данные
- DRI
- 20.1002/books/b2026/78708639
- Тип работы
- Книга
- Дата публикации
- 20 мая 2026
- Язык
- Русский
- Зеркало паспорта
- синхронизировано 21.09.2026, 17:50, версия 1
Использование по месяцам
Просмотры и скачивания за последние 24 месяца (все источники).
Список литературы
Источники, на которые ссылается работа, и их сопоставление с работами реестра.
Цитирующие работы
Работы реестра, ссылающиеся на эту работу, сначала новые.