Asosiy mazmunga o'tish

Maqola · 2020

Amorf qotishmalarning elektrofizik xossalariga bosim ta'siri

Investigation of radiation defects in thin films

20.1002/ozmufti/2020/v8_i1/14488847nationaldri.uz da ochishO'zbekcha

Pasport

nationaldri.uz registridagi pasport ko'zgusi. Tahrir faqat nationaldri.uz da amalga oshiriladi.

Annotatsiya

Ushbu maqolada «Amorf qotishmalarning elektrofizik xossalariga bosim ta'siri» mavzusi tahlil qilingan. Maqolada xorijiy va mahalliy tajriba qiyosiy tahlil qilingan. Natijalar Amorf qotishmalar samaradorligini oshirishga xizmat qiladi.

Bibliografik ma'lumotlar

DRI
20.1002/ozmufti/2020/v8_i1/14488847
Ish turi
Maqola
Jurnal
O'zMU: fan, ta'lim va innovatsiyaISSN 2181-015X
Jild va son
8-jild, 1-son
Sahifalar
25–33
Nashr sanasi
18-yanvar, 2020
Til
O'zbekcha
Pasport ko'zgusi
21.09.2026, 16:48 da sinxronlangan, versiya 1

Oylik foydalanish

Oxirgi 24 oy bo'yicha ko'rish va yuklab olishlar (barcha manbalar).

Adabiyotlar ro'yxati

Ish havola bergan manbalar va ularning registrdagi ishlar bilan moslashtirilishi.

Iqtibos beruvchi ishlar

Registrdagi shu ishga havola bergan ishlar, yangilari birinchi.